主營(yíng):電壓擊穿試驗儀,體積表面電阻率測試儀,介電常數介質(zhì)損耗因數測試,介質(zhì)損耗因數測試儀,海綿壓陷硬度試驗儀
所在地:
北京 北京
產(chǎn)品價(jià)格:
電議(大量采購價(jià)格電議)
最小起訂:
1
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發(fā)布時(shí)間:
2021-04-30
有效期至:
2026-03-04
產(chǎn)品詳細
以實(shí)現精準測量。品牌與認證符合行業(yè)標選擇通過(guò)國家或國際認證的儀器(如符合GB/T標 如需進(jìn)一步了解具體型號參數或應商信息,可參考原文鏈接或聯(lián)系廠(chǎng)商獲取技術(shù)文檔。 GB/T 1551-1995 硅、鍺單晶電阻率測定 直流兩探針?lè )?GB/T 14141-2009 硅外延層、擴散層和離子注入層薄層電阻的測定.直排四探針?lè )?GB/T 11073 硅片徑向電阻率變化的測量方法提要 GB/T 1552-1995 硅、鍺單晶電阻率測定直排四探針?lè )?GB/T 6617-1995 硅片電阻率測定 擴展電阻探針?lè )?GB/T 6617-2009 硅片電阻率測定 擴展電阻探針?lè )?探針(帶有彈簧及外引線(xiàn))之間或探針系統其他部分之間的絕緣電照至少為10°Ω. 探針排列和間距,四探針應以等距離直線(xiàn)排列,探針閥距及針突狀況應符合 GB/T 552中的規定。 確認儀器是否支持選配模具或傳感器(如壓力、溫度),以適應多樣化測試需求。 下列文件中的條款通過(guò)本標準的引用商成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修(不包括勘誤的內容)或修訂版均不適用于本標準,然而,鼓勵根據本標準達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標準。 GB/T 1552 硅、儲單晶電阻率測定 直排四探針?lè )?選型建議明確測試需求 關(guān)鍵部件采用進(jìn)口元件的儀器壽命更長(cháng)。應用場(chǎng)景擴展用干凈涂題顆子或吸筆將試樣置于樣品臺上,試樣放置的時(shí)間應足夠長(cháng),達到熱平衡時(shí),試樣溫度為23 ℃±1℃.-2004)。 測量特殊形狀或尺寸的樣品(如扁鋼接地體),需搭配專(zhuān)用取樣器(如半導電橡塑電阻儀取樣 品牌資質(zhì)與售后服務(wù),避免后續使用問(wèn)題。 探針與試樣壓力分為小于0.3 N及0.3 N~0.8N兩種。電流輸出:直流電流0~1000mA連續可調,由交流電源電。誤差:±0.2%讀數±2字 干擾因素探什材料和形狀及其和硅片表面接觸是否滿(mǎn)足點(diǎn)電流源注人條件會(huì )影響測試精度。 測量誤差±5% 本儀器配置各類(lèi)測量裝置可以測試不同材料之電導率。液晶顯示,無(wú)需人工計算,并帶有溫度補償功能,電導率單位自動(dòng)選擇,BEST-300C 材料電導率測試儀自動(dòng)測量并根據測試結果自動(dòng)轉換量程,無(wú)需人工多次和重復設置。選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數據,自動(dòng)生成圖表和報表。 電源:220±10% 50HZ/60HZ 250 μm 的半球形或半徑為 50 μm~125 μm 的平的圓截面。 主機外形尺寸:330mm*340mm*120mm 測量精度±(0.1%讀數) 分辨率: 最小1μΩ 行業(yè)標準:需確認儀器是否符合 YS/T 587.6-2006、GB/T 24521-2018 等標準,滿(mǎn)足相關(guān)炭素材料測試要求。材料類(lèi)型:適用于石墨、碳素粉末、鋰電池材料、粉末冶金等導電或半導體粉末的測試。自動(dòng)化與功能性 電流輸出:直流電流0~1000mA連續可調,由交流電源電。提完整的技術(shù)支持和售后服務(wù),保障儀器的長(cháng)期穩定使用。操作與維護便利性人機交互設計,而常規檢測可適當放寬精度要求。測試電流適配性半導電材料對測試電流敏感,需根據材料提升測量準確性,尤其適用于微電阻或高阻值測量場(chǎng)景。相較傳統兩線(xiàn)法或兆歐表,四線(xiàn)法更器類(lèi)型與便攜性1.手持式 vs 臺式手持式:適合現場(chǎng)快速檢測,便攜性強,但可能犧牲部分精 如2兆歐檔誤差±0.5%讀數 2字)。精度要求:高精度場(chǎng)景(如實(shí)驗室)需選擇誤差更小的儀器 粉體電阻率測試儀的選型需綜合考慮測量需求、材料特性、測試環(huán)境及預算等因素。以下是基于搜索結果的選型關(guān)鍵點(diǎn)分析及推薦:核心選型要素 測試標準與適用材料 電流換向開(kāi)關(guān)電導率:5×10-6~1×108ms/cm 特性??偨Y建議明確被測材料的電阻范圍及測試環(huán)境,選擇匹配量程和精度的儀器優(yōu)先采用四電位差計和電流計或數字電壓表,量程為1mV~100mV,分辨率為0.1%,直流輸入阻抗不小 電阻:1×10-5~2×105Ωcm) 之間。需確保測試儀的測量范圍覆蓋實(shí)際應用需求。例如,若需測量中高光照、高頻、需動(dòng)、強電磁場(chǎng)及溫醒度等測試環(huán)境會(huì )影響測試結果,若需同時(shí)測量土壤電阻率或泄漏電流,可考慮多功能測試儀,但需確認其是否兼容半導電材料及導出功能的儀器更便于后續分析。例如,3位數字顯示屏和自動(dòng)過(guò)載提示能提升操作效率。 與維護選擇具備堅固外殼、防塵防水(如IP54等級)的儀器,適應戶(hù)外或復雜工業(yè)環(huán)境。同時(shí)本標準適用于測量直徑大于15.9mm的由外延、擴散、離子注人到硅片表面上或表面下形成的薄層的平均薄層電阻。硅片基體導電類(lèi)型與被測薄層相反。適用于測量厚度不小于0.2 μm的薄層,方塊電阻的測量范圍為10A~5000n.該方法也可適用于更高或更低照值方塊電阻的測量,但其測量精確度尚未評估。 參考回路電阻測試儀的選型思路(如連續可調電流設計)。 考慮廠(chǎng)商技術(shù)支持能力,注意事項誤差來(lái)源:粉末壓實(shí)度、模具清潔度、環(huán)境溫濕度均可能影響結果,需規范操作流程。校準維護定期使用標準電阻校準(如 1-5 個(gè)標準電阻選配),確保長(cháng)期穩定性。 雙刀雙撐電位選擇開(kāi)關(guān)。 適合半導電材料的精密檢測。環(huán)境適應性?xún)x器需在特定溫濕度條件下工作(如溫度23±2°C、于10*0.電子測量裝置適用性應符合GB/T 1552 的規定。 歐嬌表,能指示阻值高達 10°日 的漏電阻. 溫度針o℃~40 ℃,最小刻度為0.1 ℃。 自動(dòng)化操作高端型號 北廣精儀儀器設備公司支持自動(dòng)加壓、脫模、數據采集及生成曲線(xiàn)圖譜,適合批量測試需求;手動(dòng)型號成本較低。附加功能部分儀器集成溫度、壓強實(shí)時(shí)監測,或支持高溫測試適用于模擬極端環(huán)境下的電性能分析。 電阻率: 1×10-6~2×106Ω.cm、 量程:1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,1000mA 本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示電阻值、電阻率、方阻、電導率值、溫度、壓強值、單位自動(dòng)換算,配置不同的測試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產(chǎn)品及測試項目要求選購. 準),確保安全性與可靠性。例如,部分儀器明確標注符合電力行業(yè)執行標準(如DL/T 845.4 測量電壓量程:2mV20mV200mV2V 測量范圍與精度電阻率范圍:多數儀器的電阻率覆蓋范圍為 (10^-7- 10^8 Omega ),部分高溫型號可達更高范圍(如 \(10^-8- 10^8 Omega)。精度要求:高精度型號的電阻率測量誤差可低至 ±0.01 μΩ·m,而經(jīng)濟型設備誤差通常為 ±0.1%~±0.3%。電流與電壓精度恒流源輸出需穩定(如 ±0.01 mA),電壓分辨率需達 0.1 μV 以支持微小信號檢測。 提中文或英文兩種語(yǔ)言操作界面選擇,滿(mǎn)足國內及國外客戶(hù)需求 電壓表輸入阻抗會(huì )引入測試誤差。 硅片幾何形狀,表面粘污等會(huì )影響測試結果。 本儀器配置各類(lèi)測量裝置可以測試不同材料之電導率。液晶顯示,無(wú)需人工計算,并帶有溫度補償功能,電導率單位自動(dòng)選擇,BEST-300C 材料電導率測試儀自動(dòng)測量并根據測試結果自動(dòng)轉換量程,無(wú)需人工多次和重復設置。選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數據,自動(dòng)生成圖表和報表。 概述:用于雙極板材料本體電阻率和雙極板與炭紙之間的接觸電阻的測量和分析. 通過(guò)PC軟件操作界面運行,四探針低阻測量和接觸電阻分析,自動(dòng)生成報表,自動(dòng)獲得壓力變化下電阻,電阻率和電導率的變化圖譜,樣品厚度測量,自動(dòng)運算.統計分析. 參照標準:GB/T 20042.6-2011質(zhì)子交換膜燃料電池 第6部分:雙極板特性測試方法中四探針低阻測量和接觸電阻測試方法及要求; 參數資料 方塊電阻范圍:10-6~2×102Ω/□ 電阻率范圍:10-7~2×103Ω-cm 測試電流范圍:0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA 電流精度:±0.1%讀數 電阻精度:≤0.3% 軟件界面:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率、電阻率、壓強等. 測試方式: 四探針測量(體電阻率)和四端法(接觸電阻測量) 壓力范圍:0-1000kg(0-4MPa). 樣品形狀為正方形(鍍金電極為5cm×5cm),面積為25cm2(其他規格定制) 工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W 加壓方式:自動(dòng) 樣品高度量程和精度:高度測量范圍:0.001-10.001mm,測量分辨率0.001mm 溫濕度范圍:常溫-50度;濕度:20%-98% 恒壓時(shí)間:0-99.9S 標配標準件:a.標準校準電阻1個(gè);b.標準高度校準件1個(gè) 工作電源:220±10% 50HZ/60HZ 標配外選購: 電腦和打印機依據客戶(hù)要求配置; 雙極板材料四探針低電阻測試儀是一種用于測量材料電阻率的設備。它在材料科學(xué)、電子工程、新能源等領(lǐng)域具有廣泛的應用。本文將從雙極板材料的特性、四探針測試原理、低電阻測量的重要性以及測試儀的應用等方面進(jìn)行詳細闡述。 雙極板材料的特性 雙極板材料是一種具有優(yōu)異導電性能的新型材料,廣泛應用于電池、燃料電池、超級電容器等能源存儲和轉換裝置中。它具有高比表面積、良好的電子傳輸性能、高化學(xué)穩定性和長(cháng)壽命等特點(diǎn)。這些特性使得雙極板材料在能源領(lǐng)域具有巨大的應用潛力。 四探針測試原理四探針測試法是一種用于測量材料電阻率的非破壞性測試方法。它通過(guò)在被測材料表面放置四個(gè)等間距的探針,利用恒流源給外側兩個(gè)探針施加電流,同時(shí)測量?jì)葌葍蓚€(gè)探針之間的電壓降,從而計算出材料的電阻率。四探針測試法具有測量準確、操作簡(jiǎn)便、可重復性好等優(yōu)點(diǎn),因此在材料電阻率測量中得到了廣泛應用。 低電阻測量的重要性 在能源存儲和轉換裝置中,雙極板材料的電阻率對裝置的性能有著(zhù)至關(guān)重要的影響。低電阻率意味著(zhù)材料具有良好的導電性能,有利于提高裝置的能量轉換效率和功率密度。因此,對雙極板材料進(jìn)行低電阻測量對于優(yōu)化材料性能、提高裝置性能具有重要意義。 雙極板材料四探針低電阻測試儀的應用 雙極板材料四探針低電阻測試儀是專(zhuān)門(mén)用于測量雙極板材料電阻率的設備。它采用四探針測試法,具有高精度、高穩定性、快速測量等特點(diǎn)。該測試儀在能源材料研究、能源器件制備和質(zhì)量控制等方面發(fā)揮著(zhù)重要作用。 在能源材料研究方面,雙極板材料四探針低電阻測試儀可用于研究材料的導電性能與組成、結構之間的關(guān)系,為新材料的設計和開(kāi)發(fā)提有力支持。通過(guò)測量不同條件下材料的電阻率,可以深入了解材料的電子傳輸性能、載流子濃度和遷移率等關(guān)鍵參數,為材料性能優(yōu)化提指導。 在能源器件制備方面,雙極板材料四探針低電阻測試儀可用于對雙極板材料的篩選和質(zhì)量控制。通過(guò)對材料的電阻率進(jìn)行測量,可以確保選用的材料滿(mǎn)足器件性能要求,從而提高器件的整體性能。此外,該測試儀還可用于件制備過(guò)程中的材料性能變化,及時(shí)發(fā)現潛在問(wèn)題,確保器件質(zhì)量穩定。 在質(zhì)量控制方面,雙極板材料四探針低電阻測試儀可用于對生產(chǎn)線(xiàn)上的材料進(jìn)行快速、準確的電阻率測量。通過(guò)設定合理的電阻率范圍,可以對不符合要求的材料進(jìn)行剔除,從而確保產(chǎn)品質(zhì)量的穩定性和一致性。此外,該測試儀還可用于對生產(chǎn)工藝進(jìn)行監控和優(yōu)化,提高生產(chǎn)效率和降低成本。 總之,雙極板材料四探針低電阻測試儀在能源材料研究、能源器件制備和質(zhì)量控制等方有廣泛的應用價(jià)值。它通過(guò)對雙極板材料的電阻率進(jìn)行測量,為能源領(lǐng)域的科技創(chuàng )新和產(chǎn)業(yè)發(fā)展提了有力支持。隨著(zhù)科技的不斷進(jìn)步和應用需求的不斷提高,雙極板材料四探針低電阻測試儀將在未來(lái)發(fā)揮更加重要的作用。 適用范圍四端測試法是目前較先進(jìn)之測試方法,主要針對高精度要求之產(chǎn)品測試;本儀器廣泛用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén),是檢驗和分析導體材料和半導體材料質(zhì)量的一種重要的工具。 樣品臺和操針架樣品臺和探針架應符合 GB/T152 中的規定。 樣品臺上應具有旋轉 360"的裝置。其誤差不大于士5",測量裝置測量裝置的典型電路叉圖1, 恒意源,按表1的推薦值提試樣所需的電流,精度為±0.5%. 品牌與技術(shù)支持優(yōu)先選擇技術(shù)成熟、提售后支持的品牌 北廣精儀儀器設備有限公司的設備 適用范圍四端測試法是目前較先進(jìn)之測試方法,主要針對高精度要求之產(chǎn)品測試;本儀器廣泛用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén),是檢驗和分析導體材料和半導體材料質(zhì)量的一種重要的工具。 若需高溫環(huán)境模擬(如半導體材料),優(yōu)先選擇 北廣精儀 高溫型號。關(guān)注兼容性與擴展性 在中國標準分類(lèi)中,四探針?lè )ㄉ婕暗桨虢饘倥c半導體材料綜合、金屬物理性能試驗方法、、、電工合金零件、特種陶瓷、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、電阻器、半導體集成電路、工程地質(zhì)、水文地質(zhì)勘察與巖土工程、水環(huán)境有毒害物質(zhì)分析方法、電工材料和通用零件綜合、半金屬、元素半導體材料、金屬無(wú)損檢驗方法。 顯示方式:液晶顯示使用直排四探針測量裝置、使直流電流通過(guò)試樣上兩外探件,測量?jì)蓛炔籴樦g的電位差,引人與試樣幾何形軟有關(guān)的修正因子,計算出薄層電阻。 提中文或英文兩種語(yǔ)言操作界面選擇,滿(mǎn)足國內及國外客戶(hù)需求 BEST-300C值電阻((10^6Ω~10^8 Ω)),應選擇量程擴展能力強的儀器,并關(guān)注其誤差范圍。 本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示電阻值、電阻率、方阻、電導率值、溫度、壓強值、單位自動(dòng)換算,配置不同的測試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產(chǎn)品及測試項目要求選購. 置溫度補償功能,可減少溫度變化對電阻值的影響。數據存儲與顯示支持數字顯示、數據存儲 測量條件和步驟整個(gè)測試過(guò)程應在無(wú)光照,無(wú)離頻和無(wú)振動(dòng)下進(jìn)行。
北京北廣精儀儀器設備有限公司
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